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用Zn作擴(kuò)散源在封閉的真空石英管中,研究了Zn在Ge中的擴(kuò)散問題,給出了xj-t1/2關(guān)系和C-1/T關(guān)系,比較了擴(kuò)散源溫度對樣品表面形貌的影響。采用雙溫區(qū)擴(kuò)散工藝可獲得表面光亮的樣品。采用真空退火工藝可使擴(kuò)散樣品表面漏電流降低。

針對應(yīng)變Si1-xGex的應(yīng)變致價帶分裂和重?fù)诫s對裂值的影響,提出了該合金價帶結(jié)構(gòu)的等價有效簡并度模型。模型中考慮了非拋物線價帶結(jié)構(gòu)。應(yīng)用這個模型,計算了贗晶生長在100Si襯底上的p型Si_(1-x)Ge_x應(yīng)變層的重?fù)诫s禁帶窄變,發(fā)現(xiàn)當(dāng)雜質(zhì)濃度超過約2～31019cm-3后,它在某一Ge組分下得到極大值,而當(dāng)摻雜低于此濃度時,它則隨Ge組分的增加單調(diào)下降。與實驗報道的對比證實了本模型的有效性。

該文提出一組基于廣義局部沃爾什變換(GLWT)的紋理特征。首先給出局部沃爾什變換(LWT)的定義，并在空域中對其加以推廣，用以提取圖像的局部紋理信息；然后在一個宏窗口中估計12個GLWT系數(shù)的二階矩作為圖像的紋理特征。對這組紋理特征的鑒別性能進(jìn)行了分析，并與Haralick(1973)，Wang Li(1990)，以及Yu Hui提出的紋理特征進(jìn)行了比較。實驗結(jié)果表明，該文提出的紋理特征具有更好的鑒別性能和分類能力。

本文研究覆介質(zhì)導(dǎo)體圓柱面上軸向窄縫間的耦合,討論了耦合系數(shù)譜展開式中無窮積分的收斂性態(tài),利用輔助函數(shù)Ge得出了耦合系數(shù)的計算公式,給出了部分?jǐn)?shù)值計算結(jié)果。

該文采用通用流封裝GSE來完成地面數(shù)字多媒體廣播(T-DMB)系統(tǒng)的IP業(yè)務(wù)的傳輸，提出了一種改進(jìn)的GSE-FEC方案。其中設(shè)計了一種可提供幀重構(gòu)信息以及錯誤位置信息的改進(jìn)的GSE封裝(IGSE)，進(jìn)一步提出了基于IGSE的帶擦除譯碼方案IGE，用于GSE-FEC方案的譯碼部分, 較好地提高了GSE-FEC的性能。仿真結(jié)果表明，IGE與基于非帶擦除(NE)以及基于現(xiàn)有GSE封裝的帶擦除(GE)RS譯碼方案相比，均表現(xiàn)出更強(qiáng)的糾錯能力，另外，與GE方案相比，IGE可以更好的保護(hù)正確字節(jié)，有效的減少信息浪費。

本文將文獻(xiàn)[1]的分析方法推廣到帶鐵心的偏轉(zhuǎn)器,繞組形狀可以是任意的,如子午繞組、非子午繞組、鞍形、環(huán)形或扇形等。對鐵心與繞組之間有一定間隙的情況,提出了計算偏轉(zhuǎn)場的一種新的表示式,并用高斯-切比雪夫積分式對積分方程離散求解。最后用COTY GE-14''彩顯管偏轉(zhuǎn)器的解剖數(shù)據(jù)驗證。

用H.263標(biāo)準(zhǔn)對甚低碼率圖像編碼時，經(jīng)過幀間預(yù)測后得到的運動補(bǔ)償數(shù)據(jù)通常很小，對這些數(shù)據(jù)再進(jìn)行DCT和量化后往往成為全零塊，Alice Yu算法和周算法是預(yù)先判別全零系數(shù)塊的較為有效的方法，但在對較為復(fù)雜的序列圖像進(jìn)行預(yù)測時分別出現(xiàn)了較大程度的誤判和漏判。針對這些缺點，該文提出了一種新的全零系數(shù)塊的判別方法，它具有能隨量化級的變化自適應(yīng)地調(diào)整全零塊的判斷閾值、無需任何附加運算和對圖像序列內(nèi)容復(fù)雜程度不敏感的優(yōu)點，將該方法應(yīng)用于H.263編碼器中，對Miss America和News圖像序列進(jìn)行仿真實驗。實驗表明，大約有40％-80％的塊可以在做DCT和量化前被判別為全零系數(shù)塊，大大減少了編碼的時間，同時圖像質(zhì)量的下降控制在0.0005 dB以內(nèi)。

本文用DLTS譜儀和單脈沖瞬態(tài)電容技術(shù)測量了光通信用GaAlAs/GaAs雙異質(zhì)結(jié)發(fā)光管中的深能級,對有源區(qū)摻Si和摻Ge的相同結(jié)構(gòu)器件,均測得有多子陷阱存在,其能級位置分別為EC-ED0.29eV和ET-EV0.42eV。比較了外延系統(tǒng)中氧含量變化對有源區(qū)摻Si器件深能級的影響,以及有源區(qū)EL圖象中的DSD與深能級關(guān)系,結(jié)果表明外延系統(tǒng)中氧含量對深能級有明顯影響,而EL圖象中DSD的出現(xiàn)率與深能級無明顯關(guān)系。

在分布式存儲系統(tǒng)中，當(dāng)節(jié)點發(fā)生故障時局部修復(fù)碼(LRC)可以通過訪問少量其他節(jié)點來恢復(fù)數(shù)據(jù)，然而LRC的局部度不盡相同，該文構(gòu)造了短碼長且局部度較小的四元LRC。當(dāng)碼長不超過20，最小距離大于2時，若四元距離最優(yōu)線性碼的生成陣維數(shù)不超過校驗陣維數(shù)，可利用其生成陣給出LRC，否則利用其校驗陣給出LRC。對已構(gòu)造的LRC的生成陣或校驗陣，利用刪除、并置等方法得到新矩陣，從而構(gòu)造出190個碼長$n \le 20$，最小距離$d \ge 2$的LRC。除12個LRC外，其他LRC是局部度最優(yōu)的。

Lai-Massey結(jié)構(gòu)是由IDEA算法發(fā)展而來的一個分組密碼結(jié)構(gòu)，F(xiàn)OX系列密碼算法是該密碼結(jié)構(gòu)的代表。該文從差分概率關(guān)于獨立等概輪密鑰的平均概率上界和給定起點和終點的線性鏈的平均概率上界兩個角度出發(fā)，研究Lai-Massey 結(jié)構(gòu)的差分和線性可證明安全性。該文證明了2輪Lai-Massey結(jié)構(gòu)的非平凡差分對應(yīng)關(guān)于獨立等概的輪密鑰的平均概率 $ \le p{}_{\max }$ ；證明了當(dāng)Lai-Massey 結(jié)構(gòu)的F函數(shù)是正型置換時，輪數(shù) $r \ge 3$ 的非平凡差分對應(yīng)關(guān)于獨立等概的輪密鑰的平均概率 $ \le p_{\max }^2$ 。針對給定起點和終點的線性鏈的平均概率上界，該文也獲得了類似的結(jié)論。