1988, 10(6): 563-567.
摘要:
本文介紹了一種用于研究砷化鎵材料中的缺陷(比如EL2吸收特性等)的新方法:將一束波長(zhǎng)為1.11.5m的近紅外光穿過(guò)一塊厚度為48mm,直徑為50mm的砷化鎵材料,用紅外攝象機(jī)TOSHIBA 8844攝取圖象,并直接送入計(jì)算機(jī)圖象處理系統(tǒng)DATASUD,材料中的非均勻性缺陷圖象,即材料中的缺陷(EL2,位錯(cuò)等)在截面上的分布結(jié)構(gòu)形狀(十字形,網(wǎng)狀,球粒形等)就可從屏幕上觀察到。本文給出了為研究這類(lèi)材料設(shè)計(jì)的ZHIMAG(ZHang IMAGe)圖象處理軟件包和應(yīng)用ZHIMAG所獲得的一些結(jié)果。ZHIMAG也適用于其它類(lèi)型的圖象處理。