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用Zn作擴(kuò)散源在封閉的真空石英管中,研究了Zn在Ge中的擴(kuò)散問(wèn)題,給出了xj-t1/2關(guān)系和C-1/T關(guān)系,比較了擴(kuò)散源溫度對(duì)樣品表面形貌的影響。采用雙溫區(qū)擴(kuò)散工藝可獲得表面光亮的樣品。采用真空退火工藝可使擴(kuò)散樣品表面漏電流降低。

通過(guò)對(duì)Xu(2004)和Zhang(2004)提出的兩種環(huán)簽名方案進(jìn)行分析，指出了這兩種環(huán)簽名方案都容易受到群成員改變攻擊(group-changing attack)，并給出了攻擊方法；另外，Zhang的方案還容易受到多已知簽名存在偽造(multiple-known-signature existential forgery)攻擊。為防范這兩種攻擊，對(duì)這兩種環(huán)簽名方案進(jìn)行了改進(jìn)，改進(jìn)后的方案在最強(qiáng)的安全模型(Joseph, 2004提出)中仍是安全的。

通過(guò)對(duì)Zhang-Liu-He (2006)，Gan-Chen (2004)和Wang-Zhang-Ma (2007)提出的可轉(zhuǎn)換環(huán)簽名方案進(jìn)行分析，指出了這幾個(gè)可轉(zhuǎn)換環(huán)簽名方案存在可轉(zhuǎn)換性攻擊或不可否認(rèn)性攻擊，即，環(huán)中的任何成員都能宣稱(chēng)自己是實(shí)際簽名者或冒充別的成員進(jìn)行環(huán)簽名。為防范這兩種攻擊，對(duì)這幾個(gè)可轉(zhuǎn)換環(huán)簽名方案進(jìn)行了改進(jìn)，改進(jìn)后的方案滿足可轉(zhuǎn)換環(huán)簽名的安全性要求。

針對(duì)應(yīng)變Si1-xGex的應(yīng)變致價(jià)帶分裂和重?fù)诫s對(duì)裂值的影響,提出了該合金價(jià)帶結(jié)構(gòu)的等價(jià)有效簡(jiǎn)并度模型。模型中考慮了非拋物線價(jià)帶結(jié)構(gòu)。應(yīng)用這個(gè)模型,計(jì)算了贗晶生長(zhǎng)在100Si襯底上的p型Si_(1-x)Ge_x應(yīng)變層的重?fù)诫s禁帶窄變,發(fā)現(xiàn)當(dāng)雜質(zhì)濃度超過(guò)約2～31019cm-3后,它在某一Ge組分下得到極大值,而當(dāng)摻雜低于此濃度時(shí),它則隨Ge組分的增加單調(diào)下降。與實(shí)驗(yàn)報(bào)道的對(duì)比證實(shí)了本模型的有效性。

本文研究覆介質(zhì)導(dǎo)體圓柱面上軸向窄縫間的耦合,討論了耦合系數(shù)譜展開(kāi)式中無(wú)窮積分的收斂性態(tài),利用輔助函數(shù)Ge得出了耦合系數(shù)的計(jì)算公式,給出了部分?jǐn)?shù)值計(jì)算結(jié)果。

該文采用通用流封裝GSE來(lái)完成地面數(shù)字多媒體廣播(T-DMB)系統(tǒng)的IP業(yè)務(wù)的傳輸，提出了一種改進(jìn)的GSE-FEC方案。其中設(shè)計(jì)了一種可提供幀重構(gòu)信息以及錯(cuò)誤位置信息的改進(jìn)的GSE封裝(IGSE)，進(jìn)一步提出了基于IGSE的帶擦除譯碼方案IGE，用于GSE-FEC方案的譯碼部分, 較好地提高了GSE-FEC的性能。仿真結(jié)果表明，IGE與基于非帶擦除(NE)以及基于現(xiàn)有GSE封裝的帶擦除(GE)RS譯碼方案相比，均表現(xiàn)出更強(qiáng)的糾錯(cuò)能力，另外，與GE方案相比，IGE可以更好的保護(hù)正確字節(jié)，有效的減少信息浪費(fèi)。

本文將文獻(xiàn)[1]的分析方法推廣到帶鐵心的偏轉(zhuǎn)器,繞組形狀可以是任意的,如子午繞組、非子午繞組、鞍形、環(huán)形或扇形等。對(duì)鐵心與繞組之間有一定間隙的情況,提出了計(jì)算偏轉(zhuǎn)場(chǎng)的一種新的表示式,并用高斯-切比雪夫積分式對(duì)積分方程離散求解。最后用COTY GE-14''彩顯管偏轉(zhuǎn)器的解剖數(shù)據(jù)驗(yàn)證。

由于基于最壞情況困難假設(shè)等優(yōu)點(diǎn)，基于格的密碼被認(rèn)為是最具前景的抗量子密碼研究方向。作為格密碼的常用的兩個(gè)主要困難問(wèn)題之一，含錯(cuò)學(xué)習(xí)(LWE)問(wèn)題被廣泛用于密碼算法的設(shè)計(jì)。為了提高格密碼算法的性能，Zhang等人(2019)提出了非對(duì)稱(chēng)含錯(cuò)學(xué)習(xí)問(wèn)題，該文將從理論上詳細(xì)研究非對(duì)稱(chēng)含錯(cuò)學(xué)習(xí)問(wèn)題和標(biāo)準(zhǔn)含錯(cuò)學(xué)習(xí)問(wèn)題關(guān)系，并證明在特定錯(cuò)誤分布下非對(duì)稱(chēng)含錯(cuò)學(xué)習(xí)問(wèn)題和含錯(cuò)學(xué)習(xí)問(wèn)題是多項(xiàng)式時(shí)間等價(jià)的，從而為基于非對(duì)稱(chēng)含錯(cuò)學(xué)習(xí)問(wèn)題設(shè)計(jì)安全的格密碼算法奠定了理論基礎(chǔ)。

本文介紹了一種用于研究砷化鎵材料中的缺陷(比如EL2吸收特性等)的新方法:將一束波長(zhǎng)為1.11.5m的近紅外光穿過(guò)一塊厚度為48mm,直徑為50mm的砷化鎵材料,用紅外攝象機(jī)TOSHIBA 8844攝取圖象,并直接送入計(jì)算機(jī)圖象處理系統(tǒng)DATASUD,材料中的非均勻性缺陷圖象,即材料中的缺陷(EL2,位錯(cuò)等)在截面上的分布結(jié)構(gòu)形狀(十字形,網(wǎng)狀,球粒形等)就可從屏幕上觀察到。本文給出了為研究這類(lèi)材料設(shè)計(jì)的ZHIMAG(ZHang IMAGe)圖象處理軟件包和應(yīng)用ZHIMAG所獲得的一些結(jié)果。ZHIMAG也適用于其它類(lèi)型的圖象處理。

環(huán)簽名是提供匿名發(fā)布信息的巧妙方法，該文首次給出了基于身份的可鏈接環(huán)簽名和可鏈接可轉(zhuǎn)換環(huán)簽名的概念與安全的形式化定義。以Zhang和Kim的環(huán)簽名方案為例，給出了為某些基于身份環(huán)簽名添加可鏈接性的方法。并分別提出了高效的基于身份的可鏈接環(huán)簽名和可鏈接可轉(zhuǎn)換環(huán)簽名方案，方案除滿足完備匿名性和適應(yīng)性選擇消息攻擊下的不可偽造性外，還分別滿足可鏈接性和對(duì)非簽名者的不可轉(zhuǎn)換性。