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中子擅變摻雜直拉硅的內(nèi)吸除效應(yīng)

張維連 徐岳生 李養(yǎng)賢

張維連, 徐岳生, 李養(yǎng)賢. 中子擅變摻雜直拉硅的內(nèi)吸除效應(yīng)[J]. 電子與信息學(xué)報, 1991, 13(5): 556-560.
引用本文: 張維連, 徐岳生, 李養(yǎng)賢. 中子擅變摻雜直拉硅的內(nèi)吸除效應(yīng)[J]. 電子與信息學(xué)報, 1991, 13(5): 556-560.
Zhang Weilian, Xu Yuesheng, Li Yangxian. THE INTRINSIC GETTERING EFFECT OF NTDCZSI[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1991, 13(5): 556-560.
Citation: Zhang Weilian, Xu Yuesheng, Li Yangxian. THE INTRINSIC GETTERING EFFECT OF NTDCZSI[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1991, 13(5): 556-560.

中子擅變摻雜直拉硅的內(nèi)吸除效應(yīng)

THE INTRINSIC GETTERING EFFECT OF NTDCZSI

  • 摘要: 中子嬗變摻雜直拉硅的內(nèi)吸除機理與直拉硅不同,它是輻照缺陷與硅中氧雜質(zhì)相互作用的結(jié)果。在1100℃、熱退火4h即可完成中子嬗變摻雜直拉硅的內(nèi)吸除處理。
  • T. Y. Tan, et al., Appl. Phys. Lett, 30(1977), 175.[2]J. G. Wilkes, J. Crystal. Growth, 65(1983), 214.[3]T. M. Brown, Semiconductor International, 5(1987), 233.[4]S. M. Hu, Appl. Phys. Lett, 53(1977), 31.[5]C. A. Londos, Jpn. J. Appl. Phys., 27(1982), 2089.[6]V. V. Voronkov, J. Crystal Growth, 59(1982), 625.[7]Л.С.斯米爾諾夫著,王正元等譯,半導(dǎo)體的核反應(yīng)方法摻雜,科學(xué)出版社,1986年,第108頁.[8][8][9]曹國深,半導(dǎo)體硅文集,國際硅材料學(xué)術(shù)會議???上海有色金屬研究所出版,1988年,第3頁.[10]張維連等,河北工學(xué)院學(xué)報,18(1989),33.[11]H. Harada, et al., Semiconductor Silicon, H. R. Huff, T. Abe, and B. Kolbesen, Editors, Plenum, The Flew trochem. Soc., Softbound, Proceeding Series, Pennington, NJ, (1986).[12]F. Shimura, et al., J. Electrochem. Soc, 5(1982), 1064.[13]張維連,半導(dǎo)體技術(shù),5(1988),1.
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出版歷程
  • 收稿日期:  1990-02-26
  • 修回日期:  1990-06-27
  • 刊出日期:  1991-09-19

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