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雙勢(shì)壘隧道發(fā)光結(jié)Ⅰ-Ⅴ特性中的負(fù)阻現(xiàn)象

王茂祥 吳宗漢 孫承休 章繼高

王茂祥, 吳宗漢, 孫承休, 章繼高. 雙勢(shì)壘隧道發(fā)光結(jié)Ⅰ-Ⅴ特性中的負(fù)阻現(xiàn)象[J]. 電子與信息學(xué)報(bào), 2000, 22(3): 492-495.
引用本文: 王茂祥, 吳宗漢, 孫承休, 章繼高. 雙勢(shì)壘隧道發(fā)光結(jié)Ⅰ-Ⅴ特性中的負(fù)阻現(xiàn)象[J]. 電子與信息學(xué)報(bào), 2000, 22(3): 492-495.
Wang Maoxiang, Wu Zonghan, Sun Chengxiu, Zhang Jigao. THE NEGATIVE RESISTANCE PHENOMENON IN THE I-V CURVE WITH DOUBLE BARRIER LIGHT EMISSION TUNNEL JUNCTIONS[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 2000, 22(3): 492-495.
Citation: Wang Maoxiang, Wu Zonghan, Sun Chengxiu, Zhang Jigao. THE NEGATIVE RESISTANCE PHENOMENON IN THE I-V CURVE WITH DOUBLE BARRIER LIGHT EMISSION TUNNEL JUNCTIONS[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 2000, 22(3): 492-495.

雙勢(shì)壘隧道發(fā)光結(jié)Ⅰ-Ⅴ特性中的負(fù)阻現(xiàn)象

THE NEGATIVE RESISTANCE PHENOMENON IN THE I-V CURVE WITH DOUBLE BARRIER LIGHT EMISSION TUNNEL JUNCTIONS

  • 摘要: 制備了含兩層絕緣層的雙勢(shì)壘結(jié)構(gòu)隧道發(fā)光結(jié),介紹了其結(jié)構(gòu)特點(diǎn),分析了電子在結(jié)中的共振隧穿特性。結(jié)合電子隧穿特性及結(jié)的發(fā)光機(jī)理,對(duì)結(jié)I-V特性中負(fù)阻現(xiàn)象的產(chǎn)生及其與表面等離極化激元激發(fā)發(fā)光的關(guān)系進(jìn)行了研究。
  • lambe J,McCarthy S L. Light emission from inelastic electron tunneling.Phys.Rev.Lett.,1976, 37(4):923-925.[2]Ushioda S,Uehara Y,Takada M,et al.Grating-coupled light emission from the slow mode of metal-insulator-metal tunnel junction[J].Jpn.J.Appl.Phys.1992,31(7):870-873[3]Donohue J F,Wang E Y,Surface plasmon dispersion analysis in the metal-oxide-metal tunnel diode,J.Appl.Phys.,1987,62(4):1313-1317.[4]Sentirmay Z,Prog,Quant.Electron.,1991,15(2):175-230.[5]張佑文. MIM 隧道發(fā)光結(jié)的研究:[碩士論文].南京:東南大學(xué),1997.
  • 加載中
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  • 文章訪問數(shù):  1994
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  • 被引次數(shù): 0
出版歷程
  • 收稿日期:  1998-08-10
  • 修回日期:  1999-05-04
  • 刊出日期:  2000-05-19

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