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MOSFET中載流子能量輸運(yùn)計(jì)算機(jī)輔助分析

張義門 滕建旭

張義門, 滕建旭. MOSFET中載流子能量輸運(yùn)計(jì)算機(jī)輔助分析[J]. 電子與信息學(xué)報(bào), 1991, 13(5): 482-488.
引用本文: 張義門, 滕建旭. MOSFET中載流子能量輸運(yùn)計(jì)算機(jī)輔助分析[J]. 電子與信息學(xué)報(bào), 1991, 13(5): 482-488.
Zhang Yimen, Teng Jianxu. COMPUTER AIDED ANALYSIS OF CARRIER ENERGY TRANSPORT IN MOSFETs[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1991, 13(5): 482-488.
Citation: Zhang Yimen, Teng Jianxu. COMPUTER AIDED ANALYSIS OF CARRIER ENERGY TRANSPORT IN MOSFETs[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1991, 13(5): 482-488.

MOSFET中載流子能量輸運(yùn)計(jì)算機(jī)輔助分析

COMPUTER AIDED ANALYSIS OF CARRIER ENERGY TRANSPORT IN MOSFETs

  • 摘要: 本文提出了能量輸運(yùn)問題的二維MOSFET的數(shù)值模擬,其中計(jì)入了產(chǎn)生、復(fù)合以及載流子的溫度梯度對(duì)器件特性的影響;還提出了改進(jìn)的遷移率模型。對(duì)微米和亞微米MOSFET樣品的模擬結(jié)果表明,本文所提出的模型和方法與實(shí)驗(yàn)符合得很好。
  • R. Stratton, Phys. Rev., 126(1962), 2002.[2]R. K. Cook, J. Frey, IEEE Trans. on ED, ED-29(1982), 970.[3]M. Fukuma, R. H. Vebbing, Two-dimensional MOSFET Simulation with Energy Transport Phenomena, 1984, Int. Electr, Dev. Meeting Technical Digest, San Franciso, p. 621.[4]W. Hinsch, S. Selberherr, IEEE Trans. on ED, ED-34(1987), 1074.[5]H. Shin, et al., IEEE Trans. on ED. ED-36(1989), 1117.[6]W. Hansch, M. Miura-Mattausch, J. Appl. Phys., 60(1986), 15.[7]A. Hiroki. et al., IEEE Trans. on ED, ED-35(1988), 1487.[8]S. A. Schwarz,et al., IEEE Trans. on ED, ED-30(1983), 1634.[9]J. A. Cooper et al.,,J. Appl. Phvs, 54(1983), 1445.[10]W. Fichtner, et al., Int. J. Electron, 46(1979), 33.
  • 加載中
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  • 被引次數(shù): 0
出版歷程
  • 收稿日期:  1990-07-27
  • 修回日期:  1990-12-15
  • 刊出日期:  1991-09-19

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