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2012, 34(12): 2881-2884.
doi: 10.3724/SP.J.1146.2012.00804
刊出日期：2012-12-19
該文推廣了Liu Fang等人(2010)給出的周期為pn, p為奇素?cái)?shù)，n為正整數(shù)的廣義分圓序列的構(gòu)造，并確定了新構(gòu)造序列的線(xiàn)性復(fù)雜度和自相關(guān)函數(shù)值的分布。結(jié)果表明，推廣的構(gòu)造保持了原構(gòu)造的高線(xiàn)性復(fù)雜度等偽隨機(jī)特性。由于取值更靈活，較之原構(gòu)造新構(gòu)造序列的數(shù)量要大得多。
2021, 43(8): 2121-2127.
doi: 10.11999/JEIT200769
刊出日期：2021-08-10
該文提出一種通用的時(shí)間數(shù)字轉(zhuǎn)換器(TDC)碼密度校準(zhǔn)信號(hào)產(chǎn)生方法，該方法基于相干采樣理論，通過(guò)合理設(shè)置TDC主時(shí)鐘和校準(zhǔn)信號(hào)之間的頻率差，結(jié)合輸出信號(hào)保持電路，產(chǎn)生校準(zhǔn)用的隨機(jī)信號(hào)，在碼密度校準(zhǔn)過(guò)程中，隨機(jī)信號(hào)均勻分布在TDC的延時(shí)路徑上，實(shí)現(xiàn)對(duì)TDC的bin-by-bin校準(zhǔn)?；赬ilinx公司的28 nm工藝的Kintex-7 現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列(FPGA)內(nèi)部的進(jìn)位鏈實(shí)現(xiàn)一種plain TDC，利用該方法校準(zhǔn)plain TDC的碼寬(抽頭延遲時(shí)間)，研究校準(zhǔn)了2抽頭方式下的TDC的性能參數(shù)，時(shí)間分辨率(對(duì)應(yīng)TDC的最低有效位，Least Significant Bit, LSB)為24.9 ps，微分非線(xiàn)性為(–0.84～3.1)LSB，積分非線(xiàn)性為(–5.0～2.2)LSB。文中所述的校準(zhǔn)方法采用時(shí)鐘邏輯資源實(shí)現(xiàn)，多次測(cè)試考核結(jié)果表明，單個(gè)延時(shí)單元的標(biāo)準(zhǔn)差優(yōu)于0.5 ps。該校準(zhǔn)方法采用時(shí)鐘邏輯資源代替組合邏輯資源，重復(fù)性、穩(wěn)定性較好，實(shí)現(xiàn)了對(duì)plain TDC的高精度自動(dòng)校準(zhǔn)。該方法同樣適用于其他類(lèi)型的TDC的碼密度校準(zhǔn)。
2012, 34(10): 2520-2526.
doi: 10.3724/SP.J.1146.2012.00376
刊出日期：2012-10-19
該文討論了Fang等人(2011)新近提出的一個(gè)安全高效的基于智能卡的遠(yuǎn)程用戶(hù)口令認(rèn)證方案，指出原方案無(wú)法實(shí)現(xiàn)所聲稱(chēng)的抗離線(xiàn)口令猜測(cè)攻擊，對(duì)平行會(huì)話(huà)攻擊和已知密鑰攻擊是脆弱的，并且存在用戶(hù)口令更新友好性差問(wèn)題。給出一個(gè)改進(jìn)方案，對(duì)其進(jìn)行了安全性和效率分析。分析結(jié)果表明，改進(jìn)方案彌補(bǔ)了原方案的安全缺陷，保持了較高的效率，適用于安全需求較高的資源受限應(yīng)用環(huán)境。
