測(cè)量陰極活性的降落法的改進(jìn)
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摘要: 本文敘述了改進(jìn)測(cè)量氧化物陰極活性的降落法的工作。采用了一次微分法和二次微分法,同時(shí)獲得衡量陰極活性的兩個(gè)參量拐點(diǎn)溫度或過(guò)渡溫度和發(fā)射均勻性。還敘述了實(shí)現(xiàn)這種方法所需要的實(shí)驗(yàn)線路和儀器。給出了使用這種方法來(lái)測(cè)量陰極活性所得到的結(jié)果。
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關(guān)鍵詞:
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M. G. Bodmer, I.R.E. Trans. on Electron, Devices, ED-5 (1958), 43.[4]韓麗英,《第一次全國(guó)電真空器件專(zhuān)業(yè)學(xué)術(shù)會(huì)論文集》,第三部分,第268頁(yè),國(guó)防工業(yè)出版社,1964年.[5]上海淮海電珠廠,電子管技術(shù),1977, 6, 110.[7]關(guān)于《熱陰極活性的測(cè)量》的研究報(bào)告,南京電子管廠設(shè)計(jì)所,1975, 11. -
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