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故障的可診性

張志涌 楊祖櫻

張志涌, 楊祖櫻. 故障的可診性[J]. 電子與信息學(xué)報, 1994, 16(6): 598-604.
引用本文: 張志涌, 楊祖櫻. 故障的可診性[J]. 電子與信息學(xué)報, 1994, 16(6): 598-604.
Zhang Zhiyong, Yang Zuying. -TESTABILITY FOR k-FAULTS DIAGNOSIS[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1994, 16(6): 598-604.
Citation: Zhang Zhiyong, Yang Zuying. -TESTABILITY FOR k-FAULTS DIAGNOSIS[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 1994, 16(6): 598-604.

故障的可診性

-TESTABILITY FOR k-FAULTS DIAGNOSIS

  • 摘要: 本文利用攝動理論和流形距離,首次提出了容差電路k故障可診條件,該條件定量地描述了容差電路可診性是如何依賴于電路標(biāo)稱數(shù)據(jù)和可測得信號的。文章還指出了該可診條件為合理使用定位故障的極值法提供了理論基礎(chǔ)。
  • Liu R W. A Circuit Theoretic Approach to Analog Fault Diagnosis. in Testing and Diagnosis of Analog Circuits and Systems. ed. by Liu R W. New York: Van Nostrand Reinhold, 1991, 1-35.[2]Togara Y, Matsumoto T, Arai H. IEEE Trans. on CAS, 1986, CAS-33(10): 992-1009.[3]張志涌,楊祖櫻.電子科學(xué)學(xué)刊,1994,16(1): 18-25.[4]張志涌,楊祖櫻.通信學(xué)報,1993,14(3):5-10.[5]Davis C, Kahan W M. SIAM J[J].Numer. Anal.1970, 7(1):1-46[6]Golub G, Van Loan C F. Matrix Computations. Baltimore: Johns Hopkins Uaiv. Press, 1983, 428-431.
  • 加載中
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  • 被引次數(shù): 0
出版歷程
  • 收稿日期:  1993-10-18
  • 修回日期:  1994-04-18
  • 刊出日期:  1994-11-19

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