行波諧振環(huán)在測試TR開關(guān)管中的應(yīng)用

留言板

尊敬的讀者、作者、審稿人, 關(guān)于本刊的投稿、審稿、編輯和出版的任何問題, 您可以本頁添加留言。我們將盡快給您答復。謝謝您的支持!

姓名

郵箱

手機號碼

標題

留言內(nèi)容

驗證碼

行波諧振環(huán)在測試TR開關(guān)管中的應(yīng)用

文章導航 > 電子與信息學報 > 1979 > 1(3): 146-封三

符春久, 柯錦松, 王芳惠, 董國忠. 行波諧振環(huán)在測試TR開關(guān)管中的應(yīng)用[J]. 電子與信息學報, 1979, 1(3): 146-封三.

引用本文:

符春久, 柯錦松, 王芳惠, 董國忠. 行波諧振環(huán)在測試TR開關(guān)管中的應(yīng)用[J]. 電子與信息學報, 1979, 1(3): 146-封三.

引用本文:

符春久, 柯錦松, 王芳惠, 董國忠. 行波諧振環(huán)在測試TR開關(guān)管中的應(yīng)用[J]. 電子與信息學報, 1979, 1(3): 146-封三.

摘要: 正用行波諧振環(huán)的諧振方法將功率放大若干倍后,對TR開關(guān)管或其他微波元件進行高功率模擬測試的突出優(yōu)點是,使用較低的微波功率源就能夠進行高功率測試。這樣的方法既方便又經(jīng)濟。在國外,應(yīng)用這種方法早已相當普遍,不僅用于測試元件,而且還用在微波加熱、考貝烘干和電子加速器等方面。在國內(nèi),則還沒有見到有關(guān)這方面的工作和報道